IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

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期刊简介

出版物的范围包括但不限于以下方面的可靠性：设备、材料、工艺、接口、集成微系统（包括 MEMS 和传感器）、晶体管、技术（CMOS、BiCMOS 等）、集成电路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶体管应用。从概念阶段到研发再到制造规模，在每个阶段对这些实体的可靠性进行测量和理解，为成功将产品推向市场提供了设备、材料、工艺、封装和其他必需品的可靠性的整体数据库。这个可靠性数据库是满足客户期望的优质产品的基础。这样开发的产品具有高可靠性。高质量将实现，因为产品弱点将被发现（根本原因分析）并在最终产品中设计出来。这个不断提高可靠性和质量的过程将产生卓越的产品。归根结底，可靠性和质量不是一回事；但从某种意义上说，我们可以做或必须做一切事情来保证产品在客户条件下在现场成功运行。我们的目标是抓住这些进步。另一个目标是关注电子材料和设备可靠性的最新进展，并提供对影响可靠性的基本现象的基本理解。此外，该出版物还是可靠性跨学科研究的论坛。总体目标是提供前沿/最新信息，这些信息与可靠产品的创造至关重要。

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability创刊于2001年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。其研究的主题领域包括但不限于工程技术-工程：电子与电气，是一本在工程技术领域具有重要影响力的国际期刊。该期刊涵盖了工程技术的多个子领域，旨在全面理解和解决工程技术问题。

根据最新的数据，IEEE Transactions on Device and Materials Reliability的影响因子为2.5，CiteScore为4.8，h-index为63，SJR为0.436，SNIP为1.148，中科院分区为3区，这些指标均显示了该期刊在工程技术领域的优秀地位。

该刊以English作为出版语言。对于English非母语的作者，期刊建议使用语言编辑服务，以确保文稿的语法和拼写错误得到纠正，并符合科学English的标准。如果想实现快速顺利的投稿发表，建议您联系本站的客服团队，将为您提供专业的选刊建议，并在整个投稿过程中提供细致的指导。