逆问题和成像

SCIE

期刊简介

《逆问题与成像》发表最高质量的研究文章，这些文章采用创新的数学和建模技术来研究工程和其他科学中出现的逆问题和成像问题。每篇发表的论文都具有很强的数学倾向，采用控制理论、离散数学、微分几何、调和分析、函数分析、积分几何、数学物理、数值分析、优化、偏微分方程以及随机和统计方法等领域的方法。应用领域包括医学和其他成像、无损检测、地球物理勘探和遥感以及图像分析和图像处理。

本期刊致力于记录其领域中的重要新成果，并将保持最高的创新和质量标准。要在本期刊上发表，论文必须正确、新颖、非平凡，并引起大量研究人员和读者的兴趣。

逆问题和成像创刊于2007年，由American Institute of Mathematical Sciences出版社出版。其研究的主题领域包括但不限于数学-物理：数学物理，是一本在数学领域具有重要影响力的国际期刊。该期刊涵盖了数学的多个子领域，旨在全面理解和解决数学问题。

根据最新的数据，逆问题和成像的影响因子为1.2，CiteScore为2.5，h-index为31，SJR为0.538，SNIP为0.912，中科院分区为4区，这些指标均显示了该期刊在数学领域的优秀地位。

该刊以English作为出版语言。对于English非母语的作者，期刊建议使用语言编辑服务，以确保文稿的语法和拼写错误得到纠正，并符合科学English的标准。如果想实现快速顺利的投稿发表，建议您联系本站的客服团队，将为您提供专业的选刊建议，并在整个投稿过程中提供细致的指导。