扫描

SCIE

期刊简介

扫描为所有对扫描电子、扫描探针和扫描光学显微镜感兴趣的科学家提供了一种国际性和跨学科的快速信息交换媒介。具体感兴趣的领域包括与扫描显微镜相关的仪器的所有方面、相关显微镜技术、立体测量、立体学、分析技术和显微镜的新应用。

扫描创刊于1978年，由Hindawi Limited出版社出版。其研究的主题领域包括但不限于工程技术-显微镜技术，是一本在工程技术领域具有重要影响力的国际期刊。该期刊涵盖了工程技术的多个子领域，旨在全面理解和解决工程技术问题。

根据最新的数据，扫描CiteScore为4.4，h-index为43，SJR为0.471，SNIP为0.832，中科院分区为4区，这些指标均显示了该期刊在工程技术领域的优秀地位。

该刊以English作为出版语言。对于English非母语的作者，期刊建议使用语言编辑服务，以确保文稿的语法和拼写错误得到纠正，并符合科学English的标准。如果想实现快速顺利的投稿发表，建议您联系本站的客服团队，将为您提供专业的选刊建议，并在整个投稿过程中提供细致的指导。