X 射线光谱法

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期刊简介

《X 射线光谱法》致力于快速发表有关使用电子、X 射线光子、质子、γ 和 γ-x 源的 X 射线光谱法理论和应用的论文。

这本知名期刊涵盖了技术、方法和设备的进步，为讨论更复杂的 X 射线分析方法提供了理想的平台。

涵盖了波长和能量色散系统以及一系列数据处理方法，从最简单到非常复杂的软件程序。还介绍了有关 X 射线光谱法在结构分析中的应用的论文以及涵盖环境分析和监测、艺术和考古研究、矿物学、法医学、地质学、表面科学和材料分析、生物医学和制药应用等广泛领域的应用论文。

X 射线光谱法创刊于1972年，由John Wiley and Sons Ltd出版社出版。其研究的主题领域包括但不限于物理-光谱学，是一本在物理与天体物理领域具有重要影响力的国际期刊。该期刊涵盖了物理与天体物理的多个子领域，旨在全面理解和解决物理与天体物理问题。

根据最新的数据，X 射线光谱法的影响因子为1.5，CiteScore为3.1，h-index为40，SJR为0.27，SNIP为0.671，中科院分区为4区，这些指标均显示了该期刊在物理与天体物理领域的优秀地位。

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