教育中的应用测量

SCIE SSCI

期刊简介

《应用教育测量》期刊致力于促进教育测量领域的学术研究与实践应用之间的有效对话。它认识到，为了推动教育评估工具和方法的创新与发展，必须加强研究者和实践者之间的交流与合作。期刊鼓励发表那些能够直接影响教育实践的研究成果，包括新的测量模型、评估技术以及数据分析方法。

此外，该期刊还强调了对教育测量问题进行深入分析的重要性，旨在通过发表综合性的综述文章，为读者提供关于特定主题的全面视角。这些综述不仅回顾了现有文献，还可能提出新的理论框架或方法论建议，以指导未来的研究和实践。

教育中的应用测量创刊于1988年，由Taylor & Francis出版社出版。其研究的主题领域包括但不限于Multiple，是一本在教育学领域具有重要影响力的国际期刊。该期刊涵盖了教育学的多个子领域，旨在全面理解和解决教育学问题。

根据最新的数据，教育中的应用测量的影响因子为1.1，CiteScore为2.5，SJR为0.705，SNIP为0.95，中科院分区为4区，这些指标均显示了该期刊在教育学领域的优秀地位。

该刊以English作为出版语言。对于English非母语的作者，期刊建议使用语言编辑服务，以确保文稿的语法和拼写错误得到纠正，并符合科学English的标准。如果想实现快速顺利的投稿发表，建议您联系本站的客服团队，将为您提供专业的选刊建议，并在整个投稿过程中提供细致的指导。